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1.	封面仅供参考	Optical measurement of surface topography 点击获取本书详情信息订购中著者: Richard Leach 出版社: 科学出版社出版日期: 2012.06 文献类型: 图书 , 索书号: TB96/L295 在馆信息图书信息概览图书目录试读信息内容简介著者简介
2.	封面仅供参考	X射线工业CT 点击获取本书详情信息订购中著者: 卡米尼亚托德伍尔夫利奇出版社: 国防工业出版社出版日期: 2022 文献类型: 图书 , 索书号: TB302.5/4 在馆信息图书信息概览图书目录试读信息内容简介著者简介
3.	封面仅供参考	工程纳米测量基础点击获取本书详情信息订购中著者: 利奇出版社: 浙江大学出版社出版日期: 2017 文献类型: 图书 , 索书号: TB22/L375(2)(Y) 在馆信息图书信息概览图书目录试读信息内容简介著者简介

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